基于FPGA的NAND FLASH纠错编码方案与实现
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中北大学电子测试技术国家重点实验室,太原 030051

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中图分类号:

TP333.5

基金项目:

山西省“1331工程”重点学科建设计划(1331KSC)资助


NAND FLASH error correcting coding scheme and implementation based on FPGA
Author:
Affiliation:

National Key Laboratory for Electronic Measurement Technology, North University of China, Taiyuan 030051,China

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    摘要:

    为了解决NAND FLASH存储器数据读写过程中产生误码的问题,提出了一种基于FPGA的NAND FLASH纠错编码方案。方案采用Micron公司的MT29F64G08ABAAA存储芯片并由FPGA控制器控制进行数据存储,每64Bytes产生18bits汉明码校验码,将写入FLASH中的汉明码校验码和读取数据时生成的汉明码校验码比较便可确定误码发生的位置,对该数据位进行取反便可对误码进行纠错。测试结果表明,写入和读取8GBytes数据若不采用纠错编码方案则在高低温和常温下测试均存在误码,采用纠错编码方案在20℃、60℃和-40℃环境温度下测试均无误码,实现了对NAND FLASH纠错的功能,提高了数据存储的准确度和稳定性。

    Abstract:

    In order to solve the problem of error codes in the process of reading and writing NAND FLASH memory data, an FPGA-based NAND FLASH error correction coding scheme is proposed. The solution uses Micron’s MT29F64G08ABAAA memory chip and is controlled by the FPGA controller for data storage. Every 64Bytes generates 18bits Hamming code check code, and writes the Hamming code check code in FLASH and the Hamming code check code generated when reading the data. The code comparison can determine the position where the error code occurs, and the error code can be corrected by inverting the data bit. The test results show that if the error correction coding scheme is not used for writing and reading 8GBytes data, there are errors in the test at high and low temperatures and normal temperature. The error correction coding scheme is tested at 20℃, 60℃ and -40℃. Error-free, realizes the function of NAND FLASH error correction, and improves the accuracy and stability of data storage.

    参考文献
    相似文献
    引证文献
引用本文

孙晓磊,王红亮.基于FPGA的NAND FLASH纠错编码方案与实现[J].电子测量技术,2021,44(15):149-154

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